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S.M.R.T.固態(tài)硬盤(pán)的十進(jìn)制顯示方式 一文讀懂0E與03固態(tài)硬盤(pán)的區(qū)別

2022-09-01 15:40:33    來(lái)源:快科技

最近在貼吧和一些相關(guān)論壇中,有關(guān)固態(tài)硬盤(pán)“0E”的討論成為熱門(mén)話題,討論指向某些型號(hào)的NVMe固態(tài)硬盤(pán)正頻繁出現(xiàn)S.M.A.R.T.信息中“0E”與“03”兩項(xiàng)的異常值,而這兩個(gè)現(xiàn)象意味著這類NVM存儲(chǔ)介質(zhì)正在出現(xiàn)非正常壽命損耗范疇內(nèi)的“壞塊”,繼續(xù)使用將對(duì)用戶存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的安全和完整帶來(lái)很大影響。

要想知道如何查看0E與03,我們先要對(duì)S.M.A.R.T.這項(xiàng)固態(tài)硬盤(pán)的“自我檢測(cè)分析與報(bào)告技術(shù)”有所了解。

簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),這項(xiàng)技術(shù)可使硬盤(pán)測(cè)量自身的健康指標(biāo),并將數(shù)值向操作系統(tǒng)與用戶的監(jiān)控軟件開(kāi)放,不過(guò)每個(gè)硬盤(pán)生產(chǎn)商也有權(quán)決定哪些指標(biāo)需要測(cè)量,以及為其設(shè)定各不相同的安全閾值。

作為一項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),S.M.A.R.T.已經(jīng)成為多種硬盤(pán)產(chǎn)品的標(biāo)配,其各項(xiàng)健康指標(biāo)所使用的ID代碼,也隨硬盤(pán)種類的不同而存在各自的定義。

我們要討論的0E與03就是NVMe固態(tài)硬盤(pán)S.M.A.R.T.信息中的“媒體與數(shù)據(jù)完整性錯(cuò)誤計(jì)數(shù)”與“可用備用空間”,可以使用我們熟悉的CrystalDiskMark來(lái)查看它們,正如下圖所示,這是筆者將一塊替換下來(lái)的OEM固態(tài)通過(guò)硬盤(pán)盒連接至電腦后,軟件顯示的結(jié)果。

可以看到底下的信息欄中第三行與倒數(shù)第二行分別是我們要查看的0E與03,但它們顯示的值包含一長(zhǎng)串0、其他數(shù)字和字母,這是因?yàn)镾.M.A.R.T.信息目前以十六進(jìn)制顯示,我們可以在軟件中設(shè)置以十進(jìn)制顯示,此外也可以設(shè)置屬性名稱以英文顯示,方便我們查找相關(guān)資料。

十進(jìn)制顯示方式的設(shè)置在頂部菜單欄中的功能-高級(jí)設(shè)置-原始值-10[DEC],隨后我們看到的就是如下圖更易讀的十進(jìn)制信息。

可以看到,這塊固態(tài)硬盤(pán)的03與0E值分別為100(百分比)和0(次數(shù)),處在正常狀態(tài),長(zhǎng)期讀寫(xiě)使用并未使其產(chǎn)生壞塊等現(xiàn)象,我們也可以查看其他信息,包括嚴(yán)重警告標(biāo)志的計(jì)數(shù)、已用壽命百分比(也會(huì)在左上角的健康狀態(tài)中顯示)、不安全關(guān)機(jī)計(jì)數(shù)等等。

更值得擔(dān)憂的是當(dāng)前網(wǎng)友和用戶曝光出的眾多0E開(kāi)始計(jì)數(shù)的情況,固態(tài)硬盤(pán)的壞塊是不可逆的,并且從存儲(chǔ)原理上來(lái)說(shuō),壞塊必然會(huì)影響存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的完整性,導(dǎo)致文件損壞或丟失,正如0E這個(gè)ID的具體意義:主控檢測(cè)到未恢復(fù)的數(shù)據(jù)完整性錯(cuò)誤的次數(shù)。

有糾錯(cuò)引擎無(wú)法校正的ECC、CRC校驗(yàn)失敗或者LBA標(biāo)簽不匹配錯(cuò)誤發(fā)生時(shí),0E數(shù)值會(huì)增加,只要它不為0,就代表固態(tài)硬盤(pán)已經(jīng)不再處于穩(wěn)定的工作狀態(tài)。

同時(shí),0E的增加也伴隨著03可用備用空間的減少,如果這個(gè)百分比數(shù)值降低到0,就意味著可用于替換壞塊的閃存?zhèn)溆脡K已經(jīng)用盡。

因此難怪有人認(rèn)為0E是NVMe固態(tài)硬盤(pán)的“絕癥”,因?yàn)樗却砹朔钦J褂脡勖膿p耗,也具有不可逆轉(zhuǎn)性,0E的數(shù)值大小沒(méi)有程度上的區(qū)別,因?yàn)閿?shù)據(jù)損壞對(duì)用戶而言即使是僅有一次也可能帶來(lái)不可預(yù)料的后果。

讀者們可以根據(jù)上文提供的步驟來(lái)了解自己的NVMe固態(tài)硬盤(pán)健康狀況,如果真的出現(xiàn)了0E計(jì)數(shù),筆者的建議是不再將其作為系統(tǒng)盤(pán)等主盤(pán)使用,盡快備份、轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù),并盡快尋求產(chǎn)品售后。

對(duì)用戶而言固態(tài)硬盤(pán)的壞塊不是一個(gè)能通過(guò)維修解決的問(wèn)題,保證數(shù)據(jù)的完整,同時(shí)獲得相應(yīng)退換貨服務(wù)就是最好的結(jié)果。

0E計(jì)數(shù)以及其代表的壞塊現(xiàn)象,成因目前還存在多種推測(cè),但貼吧等論壇網(wǎng)友歸納出的初步規(guī)律,包含某些型號(hào)存儲(chǔ)顆粒以及部分版本的硬盤(pán)固件有更高產(chǎn)生此類現(xiàn)象的概率,想要深入了解的朋友可以自行查找。

關(guān)鍵詞: 固態(tài)硬盤(pán) 移動(dòng)存儲(chǔ) 證券交易 營(yíng)商環(huán)境

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